5.2 离线编程去重检测

5.2.1：免责声明

警告

当开启去重检测时，重复烧录已经烧录过的芯片，将不会消耗次数、超级序列号（含标准序列号）、签名等 等权限资产，而是采用当前目标芯片中已有的动态数据（读回缓存）再结合当前工程进行重烧，除此之外，对于重烧已经烧录过的芯片，也将不累计烧录成功或者烧录失败的次数，只记录最后的错误结果，但是对于重复编程的芯片，也会进行报表统计（报表开启的情况下）。

由于目标芯片 UID 、序列号（含超级序列号）、签名等动态信息，由于不可预知的原因，包含但不仅限于诸如 芯片 UID 被伪造、工程配置信息泄落等情形导致隐含的安全问题，诸如带离线烧录次数的烧录，由于开启此功能，导致变成无限次烧录的情况，创芯工坊(PowerWriter硬件) 不对此承担责任，特此声明。

提示

由于受到设备性能和存储的限制，当前功能仅限 PWX1 设备。

5.2.2：用法

功能入口在菜单-》工具-》离线编程去重检测，点击此按钮后，将弹出功能配置页面，如下所示：

• 开启离线编程芯片去重功能：去重功能总开关。

• 去重模式选择：

  • 基于芯片UID：如果检测到芯片UID 已存在于UID 记录报表中，则判定为已编程芯片。

  • 基于超级序列号或者基础序列号：当工程开启序列号功能，并且序列号在当前工程配置范围之内，则判定为已编程过的芯片。

  • 基于签名（仅限Matrix）：如果检测目标芯片签名数据为当前合法数据，则判定为已经编程过的芯片。

• UID或者超级序列号(仅文件)检索范围：

  提示

  当使用UID 模式时，除了芯片需要包含UID 功能之外，此外要限制一下数据的检索范围，避免编程过程中的性能问题，除此之外，基于超级序列号文件模式，可以在超级序列号配置界面启用排序功能，来优化检索速度，详见关于超级序列号的排序。

  • 所有记录（可能会导致编程变慢）：从工程初次编程时的第1条记录开始查找。
  • 最后缓存的1000条记录：只从最新的1000条记录中查找。
  • 最后缓存的100条记录：只从最新的100条记录中查找。
  • 最后缓存的10条记录：只从最后的10条记录中查找。

• 当检测到重复芯片时：

  • 重新进行编程（默认）：此模式为默认模式，当重新进行编程时，芯片的动态数据，包括签名，序列号等维持不变，重新刷写固件数据，不进行扣量和次数统计（但会更新报表记录）。
  • 返回成功：一般适用于确认当前批次编程成功的芯片，快速进行混料检测，检查编程成功的芯片中是否包含空间（注：查空功能和校验功能也可实现类似的效果，但是通过此功能可以实现更快的效率，适合于大批量场景）。
  • 返回失败：同返回成功类似，差异在于，返回失败时，可以通过自动化设备进行快速分拣，以便后续分析。

警告

如果当前项目工程配置中，并没有使能对应的功能，即使当前配置开启，功能也无效。

特别提示

• 当芯片没有 ID 时，将不会启用基于 UID 的重复检测功能。
• 未启用序列号功能时，基于序列号功能的去重功能将被禁用。此外，同时启用超级序列号和标准序列号时，优先选择超级序列号来去重。
• 基于签名的去重功能仅支持 Matrix 签名，不支持 ICWKEY。